室蘭工業大学蔵書検索システム
ログイン
  • 目録検索 検索メニュー ▼
  • マイライブラリ マイライブラリ ▼
    • 利用状況確認・貸出延長
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • 新着アラート
    • 文献複写申込
    • 図書借用申込
    • 図書購入リクエスト

室蘭工業大学蔵書検索システム

二次イオン質量分析法

第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <TW00371423>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

二次イオン質量分析法

第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <TW00371423>
便利機能：
目次・あらすじを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 2F一般図書 481923 428.4/N71 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所・配架マップ 2F一般図書
資料ID 481923
請求記号 428.4/N71
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件
このページのTOPへ
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法
2ジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 丸善出版 , 2025.5
形態事項 9,226p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784621311356
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <>//a
注記 表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)
注記 初版:丸善 1999年刊
学情ID BD12063477
本文言語コード 日本語
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 物性物理学 NDC10:428.4
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 イオンビーム||イオン ビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウ ブンセキ
このページのTOPへ
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    NII書誌検索

    他の図書館から取り寄せる

    • 文献複写申込.
    • 図書借用申込.

    この書誌のQRコード