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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; U.S., G.W.. -- Springer Verlag, 1983. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <TY00005036>
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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; U.S., G.W.. -- Springer Verlag, 1983. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <TY00005036>
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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 G.W. 1F電動書庫(56-63：洋図書) 053540 425.5/B35 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等 G.W.
配置場所・配架マップ 1F電動書庫(56-63：洋図書)
資料ID 053540
請求記号 425.5/B35
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer Verlag , 1984
形態事項 xv, 503 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 U.S.
ISBN 038713316X
巻号情報
巻次等 G.W.
ISBN 354013316X
書誌構造リンク Springer series in chemical physics <> v. 36//a
注記 "Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry]"--Pref
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA06696320
本文言語コード 英語
著者標目リンク Benninghoven, A. <>
著者標目リンク International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC:543/.0873
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses
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