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個別半導体素子の試験方法 : MIL-STD-750B

(社)日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ訳. -- 日本規格協会, 1975. <TW00305841>
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個別半導体素子の試験方法 : MIL-STD-750B

(社)日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ訳. -- 日本規格協会, 1975. <TW00305841>
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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 1F電動書庫(64-86：和図書) 143023 549.8/D59 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所・配架マップ 1F電動書庫(64-86：和図書)
資料ID 143023
請求記号 549.8/D59
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 個別半導体素子の試験方法 : MIL-STD-750B / (社)日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ訳
コベツ ハンドウタイ ソシ ノ シケン ホウホウ : mil std 750b
出版・頒布事項 東京 : 日本規格協会 , 1970.7
形態事項 265p ; 26cm
その他の標題 原タイトル:Test methods for semiconductor devices : Military Standard MIL-STD-750B, 27 February 1970
注記 奥付の訳者: 電子機械工業会
学情ID BA64350764
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本電子機械工業会防衛庁半導体分科会翻訳グループ
ニホン デンシ キカイ コウギョウカイ ボウエイチョウ ハンドウタイ ブンカカイ ホンヤク グループ <>
著者標目リンク 電子機械工業会||デンシ キカイ コウギョウカイ <AU00328094>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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