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SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術

菅沼克昭編著. -- 日刊工業新聞社, 2014. <TW00360623>
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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 2F一般図書 470009 549.8/Su25 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所・配架マップ 2F一般図書
資料ID 470009
請求記号 549.8/Su25
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件

書誌詳細

標題および責任表示 SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術 / 菅沼克昭編著
SiC/GaN パワー ハンドウタイ ノ ジッソウ ト シンライセイ ヒョウカ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 2014.12
形態事項 247p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784526073397
その他の標題 標題紙タイトル:power semiconductor devices
注記 参考文献: 各章末
学情ID BB17632156
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 菅沼, 克昭||スガヌマ, カツアキ||Suganuma, Katsuaki <AU00367655>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
件名標目等 パワーエレクトロニクス||パワーエレクトロニクス
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)