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TOEIC L&R testへの総合アプローチ

Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著] ; Pre-Interneduate. -- 成美堂, 2025. <TW00371750>
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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 Pre-Interneduate 2FTOEIC英語資格 482322 830.79/Y94 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等 Pre-Interneduate
配置場所・配架マップ 2FTOEIC英語資格
資料ID 482322
請求記号 830.79/Y94
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件

書誌詳細

標題および責任表示 TOEIC L&R testへの総合アプローチ / Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著]
TOEIC L&R test エノ ソウゴウ アプローチ
出版・頒布事項 東京 : 成美堂 , 2025.1
形態事項 vi, 119p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
巻次等 Pre-Interneduate
ISBN 9784791973132
その他の標題 標題紙タイトル:Best practice for the TOEIC L&R Test
注記 表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)
学情ID BD11621093
本文言語コード 日本語 英語
著者標目リンク 吉塚, 弘||ヨシズカ, ヒロシ <AU00413549> 著者
著者標目リンク Skerritt, Graham <AU00413550> 著者
分類標目 英語 NDC10:830.79
分類標目 児童図書・簡易整理資料・教科書・専門資料室資料・特殊資料 NDLC:Y45
件名標目等 英語||エイゴ