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MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

日本規格協会編集. -- 日本規格協会, 1987. <TW00312018>
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MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

日本規格協会編集. -- 日本規格協会, 1987. <TW00312018>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 1F電動書庫(64-86：和図書) 145740 549/N71 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所・配架マップ 1F電動書庫(64-86：和図書)
資料ID 145740
請求記号 549/N71
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順 / 日本規格協会編集
MIL STD 883C マイクロエレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン
出版・頒布事項 東京 : 日本規格協会 , 1987.3
形態事項 568p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4542401197
注記 Test methods and procedures for microelectronics.の翻訳
学情ID BN05196492
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本規格協会||ニホン キカク キョウカイ <AU00301806>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 工業．工業経済 NDC8:509.13
件名標目等 電子工学||デンシコウガク
件名標目等 マイクロエレクトロニクス -- 規格||マイクロエレクトロニクス -- キカク
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