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新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

竹谷誠著. -- 早稲田大学出版部, 1991. <TW00067871>
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No. 巻冊次等 配置場所・配架マップ 資料ID 請求記号 禁帯出区分 状態 返却期限日 備考 予約件数
0001 2F電動書庫(36-70:和図書) 378681 371.7/Ta68 帯出可 0件
No. 0001
巻冊次等
配置場所・配架マップ 2F電動書庫(36-70:和図書)
資料ID 378681
請求記号 371.7/Ta68
禁帯出区分 帯出可
状態
返却期限日
備考
予約件数 0件

書誌詳細

標題および責任表示 新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 早稲田大学出版部 , 1991.4
形態事項 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4657914162
注記 文献:p301〜309
学情ID BN06351080
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 竹谷, 誠(1941-)
タケヤ, マコト <>
分類標目 NDC:371.7
分類標目 NDC:371.8
件名標目等 教育評価